.
Załóż konto
EnglishDeutschРусскийFrançaisEspañol中国

GeIL i gruntowne testy pamięci DDR2

GeIL, znany producent pamięci RAM, poinformował, że wszystkie obecnie wytwarzane układy DDR2 podlegają testom w technologii DBT. Die-hard Burn-in to seria rygorystycznych kontroli, mająca na celu przedwczesną eliminację wadliwych modułów. Do niedawna technologia Die-hard Burn-in obejmowała jedynie moduły DDR2 SO-DIMM oraz układy pamięci dedykowane graczom (Black Dragon i EVO ONE). Aktualnie zakres testów uległ znacznemu rozszerzeniu i technologii DBT podlegają również pamięci DDR2 z serii Value, Ultra oraz moduły dedykowane komputerom Mac. W specjalnie zaprojektowanej komorze (DBT-1) prowadzone są testy wytrzymałościowe pamięci RAM. Nad 24-godzinnym procesem czuwa oprogramowanie symulujące ekstremalnie trudne warunki pracy. Układy testowane są w temperaturze dochodzącej nawet do 100 st. Celsjusza.

Testy wytrzymałości termicznej częstokroć stosowane są jako forma poświadczenia niezawodności wszelkiego rodzaju elementów elektronicznych. Dotychczas podobne testy wykonywano jedynie dla pamięci serwerowych czy modułów mających zastosowanie w przemyśle zbrojeniowym. Ale czy to diametralnie odmieni losy GeIL, który w obliczu konkurencji ze strony OCZ, Mushkin czy A-Data nie radzi sobie najlepiej?

Źródło: Reactor

Twoja ocena publikacji:
0
Sebastian Oktaba
Liczba komentarzy: 3

Komentarze:

x Wydawca serwisu PurePC.pl informuje, że na swoich stronach www stosuje pliki cookies (tzw. ciasteczka). Kliknij zgadzam się, aby ta informacja nie pojawiała się więcej. Kliknij polityka cookies, aby dowiedzieć się więcej, w tym jak zarządzać plikami cookies za pośrednictwem swojej przeglądarki.